24/7/365监视和保护测试操作中的半导体设备
自动收集、分析和检测制造测试，组装和封装操作中发生的统计变化，无论这些变化发生在哪里，都会对产品的产量，质量或可靠性产生负面影响。
下载 the Test Operations datasheet
全球部署–超过4,000台测试机台
Test Operations（T-Ops）模块支持行业中最广泛的当前和传统测试机台，并管理着全球OSAT和IDM中的4,000多测试机台。 所有测试操作数据都将自动收集，并准备通过DEX进行交互式或基于规则的分析。
更高的质量和可靠性
在将设备发送给客户并进入供应链之前，测试运营部门是最终的守门人。 至关重要的是拥有一个平台，可以根据您的数据进行扩展，并提供强大而灵活的规则和分析以满足您的客户需求。 T-Ops支持零件平均测试（PAT）的多种算法，例如GDBN，NNR，DPAT，SPAT和Clustering。
更高的测试效率，更低的测试成本
Test Operations 模块通过分析洞察测试机台和测试程序效率来帮助提高测试吞吐量。 对内部或外部测试操作的24/7/365监控可确保您达到良好芯片最大产量的要求，以履行合同义务。
支持各种规模的客户
与其他公司的产品不同，Test Operations（作为Exensio Fabless或Exensio IDM的一部分）的使用可从小型的初创公司扩展到《财富》500强企业。 我们拥有一支经验丰富的全球集成团队，可以在很短的时间内将Test Operations 快速部署和集成到您的测试环境（IDM或OSAT）中。
Test Operations 模块的亮点
- 对现有和传统测试机台的广泛支持
- 双向测试机台控制
- 通过DEX自动收集和清理数据
- 大数据分析（Cassandra和R）
- 特定测试的分析和图表
- 无墨晶圆图编辑/合并/导出
- 在线和离线规则，以确保质量和可靠性