独特而强大的表征能力

PDF Solutions是公认的参数表征系统行业领导者，率先使用short-flow测试芯片开发和快速引进新技术和新产品。在过去的二十年中，Integrated Yield Ramp项目获得了数百项经过验证的结果。 CV®系统现在也可以通过订阅获得。

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我们的Characterization Vehicle 系统

CV系统提供差异化​​的参量电气数据，与Exensio Analytics Platform结合使用时，可提供可行的见解，从而显着缩短设计迭代，最多可将上市时间缩短三个月。

CV®系统是结合我们与有的pdFasTest®测试机台所设计的高密度 CV®测试芯片组合，其数据生成速度比传统测试芯片系统快了100 倍，并且可以自动提取到Exensio®大数据分析平台中。 整个stack设计经过优化，可以生成标有所有关键设计属性的干净数据，以进行有效的总结和深入分析。

CV系统提供了sub-PPB（十亿分之一）的统计分辨率、广泛的结构版图设计（DoE），面积效率和自动化分析。 业务目标是在无与伦比的周转时间内实现的：短流程制造将工艺时间缩短了数周到数月，而且可以在不到一天的时间内完成整批full-reticle CV的100％的测试和分析。

CV测试芯片

PDF Solutions已经提供了100多种10nm及以下的CV测试芯片。 经证明，CV测试芯片表现了工艺版图交互，对于验证和监视高良率、稳定的生产至关重要。 每个CV测试芯片都集合了我们数十年的行业经验以及针对您的产品设计和/或工艺技术而定制的专有版图和DoE。

Fabless的CV系统

首次使用正确的产品流片对业务成功至关重要。 稳定的批量生产对于WIP优化和盈利是必需的。 用于无晶圆厂半导体公司的CV系统可提供参数化分析，以帮助客户实现目标。MPW CV、Product Detective CV和Direct Probe CV测试芯片能在量产之前发现功能和参数问题 Scribe CV测试芯片和CV Core IP模块可提供监视和快速诊断功能，以优化的成本实现高质量的批量生产。

Foundries和IDM's的CV系统

在过去的二十多年中，PDF Solutions为代工厂和IDM的技术开发和大规模生产提供了世界一流的学习速率。我们的客户依靠短流程BEOL CV和xFEOL CV测试芯片（全掩膜版或共享掩模版）来最大程度地以最小的制程、测试和分析时间来利用研究每个晶片。Scribe CV在批量生产期间可提供整个晶圆的空间覆盖范围，并能够对关键产品进行定制，从而实现了快速推出新产品和持续提高良率所需的可观察性。

最大化批量生产中的耐用性和可预测性

我们的CV系统提供的大量的器件表征数据结合我们的Exensio Analytics Platform中的产品测试数据分析，可以建立精确的，针对特定产品的性能模型，以实现针对特定产品的最佳工艺设置，从而最大程度地提高制造耐用性和可预测性。