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PDF Solutions Completes Acquisition of Cimetrix

Acquisition Provides Potential of Unrivaled Intelligence for Semiconductor, Packaging, and Electronics Manufacturing

Press Release and Management Summary

PDF Solutions Completes Acquisition of Cimetrix

Press Release and Management Summary
12/10/2020

Advantest and PDF Solutions Announce Joint Solution for Dynamic Parametric Test

Advantest and PDF Solutions announce the availability of a new cloud-based solution based on the Advantest Cloud powered by PDF Exensio

阅读新闻稿

不仅提供数据洞察,我们还提供数据前瞻

远在他人意识到趋势发生之前,领导者很早就能够准确地预测结果。在工业4.0时代,半导体制造业的成功需要在整个产品生命周期中集成数据,并在最前沿应用预测分析,以积极影响良率、质量和可靠性等。

fore•sight /fôr'sīt"/设想或预测未来可能发生的事情的能力或行动

一流的大数据
分析平台

Exensio®Analytics Platform支持FDC,Yield,Test,Assembly和Packaging的数百种数据格式,并将所有数据统一为单一语义数据模型,该模型可立即用于交互式分析和机器学习应用程序,将您的数据转换为有实际价值的信息,以提高您的良率和质量,以及利润。

所有产品
Exensio Fabless
Exensio IDM
Exensio Foundry
Exensio OSAT

我们提供

80%

更少的数据整理

时间用于寻找答案,而不是收集和整理数据

50%

更快的良率研究

加快所有产品的上市时间

50%

更少的质量损失

实现高质量目标而又不牺牲良率

Advanced Insights For Manufacturing
Integrated Yield Ramp
Design For Inspection

充分利用您的数据

PDF Solutions提供了其他产品来帮助客户实现特定目标。 这些解决方案包括使用机器学习(例如,预测早期寿命故障),Characterization Vehicles®来加速先进工艺节点和衍生旧节点的良率学习,以及提供下一代Design For Inspection™解决方案,该方案相比其它方法,能提前数月确定电子制造业的关键问题。

服务范围

“我们能够使用Exensio dashboarding功能显着提高测试运营效率和直通率。”

Wang Wei-Chung 博士 Fairchild 制造运营高级副总裁

“我们期待将整个Exensio平台与Exensio-Yield和Exensio-Control模块结合使用,以优化我们的芯片良率并直接积极影响我们的盈利能力。”

Bob Lima Peregrine Semiconductor 组装和测试运营总监

“ Exensio的新功能和单一平台方法对于成功推出新产品至关重要,这使我们能够推动制造工艺实现更高的良率,更高的效率,并帮助我们的客户迅速进入市场。”

Kevin Haskew ON Semiconductor 高级副总裁兼首席信息官

“在对当前市场的报价进行基准分析并在我们的Reutlingen工厂测试了mæstria®的实际应用后,我们得出的结论是mæstria®是最适合我们制造环境的FDC解决方案。”

Thorsten Widmer Robert Bosch GmbH 半导体厂副总裁

“经过广泛的评估和实际使用,我们发现mæstria®和dataPOWER®是当今市场上最好的独立FDC和YMS产品。”

Walter Mente austriamicrosystems 运营副总裁

IC制造工艺生命周期提高良率的技术和服务的领先供应商。

企业

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PDF Solutions to Report Third Quarter 2020 Financial Results on November 5, 2020
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电话: 408-280-7900

传真: 408-280-7900

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